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Description
号 | HC-49U,HC-49S,hc-49smd,HC-49T, UM-1,UM-5 |
频率范围) | 1.8432 to 80MHz |
调整频差( 25℃) | ±10 to ±50 ppm |
温度频差 | ±10 to ±100 ppm |
温度范围 | 0 to 50℃, -10 to +60℃(Standard), -10 to +70℃,-20 to+70℃,-30 to +80℃,-40 to +85℃ |
储存温度 | -40 to +85℃ |
负载电容 | 7 pF min |
静态电容 | 7 pF max |
激励电平 | 10μW to 2MW |
老化率 | ±5ppm/year max |
串联等效电阻 | Table A |
跌落测试:1. 跌落测试(冲击):从75cm高度自由跌落到30mm厚的胶板上,跌落3次,跌落后晶体频差不可超过4ppm。 | |
2. 震动测试:频率10~55Hz,振幅0.75mm,X Y Z方向各振动30分钟。频率变化≤±20ppm。 | |
3. 端子强度测试: 拉力:固定晶体主体,沿引出端轴向施加0.9Kg拉力,保持30±5秒,引出端无拔出或断裂现象。 弯曲:如下图所示,引线端头悬挂450g的重物,弯曲90°,时间2~3秒,以相同速度返回原位置,再反向操作一次,引线无松动和断裂现象。 |
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4. 密封测试:将晶体浸在酒精中,加压5Kg/cm,时间5分钟,取出测引线与基座间绝缘电阻大于500MΩ(DC100) | |
5. 可焊性:从引线末端至底部2~3.0mm处放入235℃±5℃的焊槽内,时间2±0.5秒,沾锡面>95。性能检验要求同振动。 | |
焊接温度测试:从引线末端至底部2~2.5mm处放入350℃±10℃的焊槽内,时间3.5±0.5秒,试验后,外观无异常,性能检验要求同振动。 | |
6. 温度循环测试: 2~3min -20℃ ………………… +70℃ 30min 30min 循环三次后,外观无损伤。性能检验要求同振动 |
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防潮测试:在40±3℃,RH93%±2%,放置48小时,取出后恢复2小时,外观无异常,性能检验同振动要求 |
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HC-49U谐振器
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